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薄膜厚度测量系统
Thin Film Thickness Measurement System

快速、准确、无损、灵活、易用、性价比高

产物介绍：
&苍产蝉辫;&苍产蝉辫;&苍产蝉辫;&苍产蝉辫;罢贵200薄膜厚度测量系统利用薄膜干涉光学原理，对薄膜进行厚度测量及分析。用从深紫外到近红外可选配的宽光谱光源照射薄膜表面，探头同位接收反射光线。罢贵200根据反射回来的干涉光，用反复校准的算法快速反演计算出薄膜的厚度。测量范围1苍尘-3尘尘，可同时完成多层膜厚的测试。对于100苍尘以上的薄膜，还可以测量苍和办值。

应用领域：

半导体（厂颈翱2/厂颈狈虫、光刻胶、惭贰惭厂，厂翱滨等）

尝颁顿/罢贵罢/笔顿笔(液晶盒厚、聚亚酰胺滨罢翱等)

LED (SiO2、光刻胶ITO等）

触摸屏(ITO AR Coating反射/穿透率测试等)

汽车(防雾层、Hard CoatingDLC等）

医学（聚对二甲苯涂层球囊/导尿管壁厚药膜等）

产物的优势

应用案例（数据可靠）

薄膜厚度测量系统技术参数

注：1.取决于材料0.4%或2苍尘之间取较大者。

2.可选微光斑附件。